激光粒度仪（aser Partice Size Anayzer）是一种根据光散射原理丈量颗粒巨细散布的仪器，其中心是经过一系列剖析颗粒对激光的散射信号来反推粒径散布。以下是其丈量原理的具体解析：适用于一切粒径规模（尤其是亚微米至数百微米），考虑颗粒的折射率（实部和虚部）、激光波长及散射视点的完好电磁波散射理论。要害参数：需输入样品和涣散介质的折射率（如水的折射率1.33，常见颗粒如Si?约1.46~1.55）。简化模型，假定颗粒不透明且远大于激光波长（一般10μm），仅考虑衍射效应，无需折射率参数。激光光源：安稳的632.8nm He-Ne激光（如美国马尔文粒度仪）或632.8nm半导体激光（如德国FRITSCH奔驰粒度仪）。干法：气流涣散（如新帕泰克Hes，FRITSCH A-22选用文丘里规划）。经过反演算法（如非负最小二乘法NNS）将散射光强散布转换为粒径散布（D10/D50/D90）。

  4. 要害影响要素折射率设置：过错值会导致小颗粒成果误差（如金属颗粒需输入复数折射率）。涣散质量：聚会体会被误判为大颗粒，需超声或涣散剂处理。布景校正：扣除介质和池壁的散射本底。仪器校准：定时用规范物质（如NIST可溯源乳胶球）验证（比方FRITSCH出产的标物均为NIST可溯源标物）。5. 使用场景规模与约束粒径规模：一般0.01~3500μm（不相同的类型差异大）。适用样品：粉体、乳液、悬浮液等，但需满意光学透明性（不适用于高浓度或不透明系统）。局限性：无法区别形状差异（假定颗粒为球形）。对纳米颗粒（100nm）需动态光散射（DS）辅佐。6. 与其他技能的比照

  总结激光粒度仪经过散射光视点散布与强度的数学反演完成快速、非触摸的粒径剖析，其精度依赖于光学模型、仪器校准及样品涣散状况。了解原理有助于优化测验条件并合了解读数据。

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